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微粒表面尘埃粒子理化分析仪

更新时间:2025-04-10

简要描述:

微粒表面尘埃粒子理化分析仪QIIISM 是一款用于测量和检测机台表面微粒子SPD的精密仪器,它采用目前的技术来实现量测的精确性和机台的稳
定性。人的肉眼很难看清直径在 100um 以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃
避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产物上,从而减少产物的良率及降低产
品的稳定性,QIII SM 表面粒子检测器测量(0.3~10um)的粒子

型号:QIII SM点击量:174

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微粒表面尘埃粒子理化分析仪QIIISM 是一款用于测量和检测机台表面微粒子SPD的精密仪器,它采用目前的技术来实现量测的精确性和机台的稳

定性。人的肉眼很难看清直径在 100um 以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃

避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产物上,从而减少产物的良率及降低产

品的稳定性,QIII SM 表面粒子检测器测量(0.3~10um)的粒子,对于生产环 境的控制,提升产物的良率都起到了很大的作用,能够 帮助公司更快捷的实现数据化管理

BENEFITS 快速测量表面颗粒 可以帮忙控制机台产物上的颗粒物从而提高产量 通过快速识别粒子源,减少故障排除时间 可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle 减少PM的周期 符合 ISO 14644-9表面粒子操作规范 减少粒子相关故障  QIII SMTM SIDE VIEW 表面尘埃粒子理化分 析仪 0.3-10um 微粒表面尘埃粒子理化分析仪QIII SM orp.c Particle 测量范围: 0.3um -10um  粒径通道: 0.3, 0.5, 1.0, 3.0, 5.0, 10.0um  激光源: 镭射激光 尺寸 & 重量: 30.5cm X 26.7cmX 22.9cm, 8.4 公斤 电池:2块可热插拔锂电池 显示: 7" 英寸WVGA触摸屏 数据显示: /平方厘米,/平方英寸,可智能分析测试数据平均值 数据输出: USB,以太网, WiFi(选配) 探头包含: ?" 英寸直角探头. 输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz 取样模式: 静态取样和动态取样 CE认证 语言: 英语, 中文, 日文, 韩文 美国制造

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